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基础信息Product information

产品名称:牛津Oxford CMI165 面铜测厚仪

产品型号:

产品简介:

牛津Oxford CMI165 面铜测厚仪
CMI165是一款人性化设计、坚固耐用的世界首款带温度补偿功能的手持式面铜测厚仪。
   CMI165独有的温度补偿功能确保测量结果精确而不受铜箔温度的影响,仪器配有探针防护罩,确保探针的耐用性;配备探头照明方便测量时准确定位。

产品特性Product characteristics

牛津Oxford CMI165 面铜测厚仪

产品特色:

-- 可测试高温的PCB铜箔

-- 显示单位可为mils,μm或oz

-- 可用于铜箔的来料检验

-- 可用于蚀刻或整平后的铜厚定量测试

-- 可用于电镀铜后的面铜厚度测试

-- 配有SRP-T1,带有温度补偿功能的面铜测试头

-- 可用于蚀刻后线路上的面铜厚度测试

 

产品规格:

--利用微电阻原理和独有的温度补偿功能通过四针式SRP-T1探头进行铜厚测量,符合EN 14571测试标准

--厚度测量范围:化学铜:0.25 - 12.7 μm(0.01 - 0.5 mils)
                            电镀铜:2.0 - 254 μm(0.1 - 10 mils)

--仪器再现性:  0.08 μm at 20 μm (0.003 mils at 0.79 mils)

--强大的数据统计分析功能,包括数据记录平均数、标准差和上下限提醒功能

--仪器的操作界面有英文和简体中文两种语言供选择

--仪器无需特殊规格标准片,可实现蚀刻后的线型铜箔的厚度测量,可测线宽范围低至0.2 mm

--仪器可以储存9690条检测结果(测试日期时间可自行设定)

--测试数据通过USB2.0实现高速传输,也可保存为Excel格式文件

--仪器为工厂预校准

--客户可根据不同应用灵活设置仪器

--用户可选择固定或连续测量模式

--仪器使用普通AA电池供电

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