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基础信息Product information

产品名称:荧光X线膜厚计 测厚仪

产品型号:COSMOS-2X

产品简介:

COSMOS-2X 荧光X线膜厚计 测厚仪
荧光X线膜厚计 COSMOS-2X 适合行业:IC业、电镀业、电子业、精密工业、PCB业、装饰业。

产品特性Product characteristics

COSMOS-2X 荧光X线膜厚计 测厚仪

 

COSMOS-2X
 
产品特点
 
 
    COSMOS-2X 规格表
    1. X线源:油浸式由上而下垂直照射方式。
    2. 检出器:比例计数管。
    3. 滤波器:采用 Co 和 Ni 双滤波器及数字式滤波器,可单一或同时使用。
    4. 准直仪:采用五种孔径一体成型式,可自动切换使用。
    5. 样品观测系统:彩色CCD及高画质显示屏。
    6. 多能谱分析器:256高频分析器,光谱自动分析。
    7. 测量项目:单/多层/无电解镍/合金膜厚成份比/元素光谱峰值测定分析.
    8. 测量范围:原子序22 ~ 82 , zui小量测值0.05um.
    9. 测量机能:同一点重复测定机能,输出形式设定,能谱测定.
    10. 底材补正功能:当样品与标准片的底材不同时,可作底材补正。
    11. 本机俱有自动安全断电系统功能.
    12. 由锁匙开关来控制X 线输出,以防止外人任意操作.
    13. 测量部主机尺寸:362(W) ×425(D) ×521(H) ㎜.
    14. 测量台尺寸尺寸:170 (W) ×100 (D) ㎜
    15. 移动量(X-Y-Z轴):70 ×70 ×80 ㎜.
    16. 使用电源:电压: AC100V/220V ±10V ; 50/60Hz
   
 
适用范围
 
 
    适合行业:IC业、电镀业、电子业、精密工业、PCB业、装饰业。

 

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