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基础信息Product information

产品名称:涂层测厚仪 膜厚计

产品型号:日本KETT LE-200J

产品简介:

日本KETT LE-200J 涂层测厚仪 膜厚计
本仪器采用了磁性测厚方法,可无损的测量磁性金属基体(如铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等)。内置打印机,可打印数据,有四个统计功能。

产品特性Product characteristics

日本KETT LE-200J 涂层测厚仪 膜厚计

 

 

日本KETT  LE-200J 涂层测厚仪 膜厚计

特点:  本仪器采用了磁性测厚方法,可无损的测量磁性金属基体(如铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等)。内置打印机,可打印数据,有四个统计功能。

LE-200J测定方法电磁式测定对象磁性金属上非磁性涂镀层测定范围0~1500um或0~60.0mils测定精度<15um±0.3um   >15um±2%分辨率<100um 0.1um    >100um 1um界限设定可设定上/下限数值测试单位公/英制互换显示方式LCD数显操作面板密封防水按键附属品铁基体/校正标准片/电池/皮套/说明书电源DV3V 主机5#碱性电池×6个 打印机5#碱性电池×4个体积80(W)×80(D)×30(H)重量1100g

 

 

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